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測(cè)厚儀(thickness gauge )是用來(lái)測(cè)量材料及物體厚度的儀表。常用來(lái)連續(xù)或抽樣測(cè)量厚度(如鋼板、鋼帶、薄膜、紙張、金屬箔片等材料)。

介紹

測(cè)厚儀可以用來(lái)在線(xiàn)測(cè) 量軋制后的板帶材厚度，并以電訊號(hào)的形式輸出。該電訊號(hào)輸給顯示器和自動(dòng)厚度控制系統(tǒng)，以實(shí)現(xiàn)對(duì)板帶厚度的自動(dòng)厚度控制(AGC)。

主要類(lèi)型

用于測(cè)定材料本身厚度或材料表面覆蓋層厚度的儀器。有些構(gòu)件在檢修時(shí)測(cè)量其厚度，以便了解材料的厚薄規(guī)格，各點(diǎn)均勻度和材料腐蝕、磨損程度;有時(shí)則要測(cè)定材料表面的覆蓋層厚度。根據(jù)測(cè)定原理，常用測(cè)厚儀有聲、磁性、渦流、同位素等四種。

脈沖從發(fā)射至接收的間隔時(shí)間，即可將這間隔時(shí)間換算成厚度。常用于測(cè)定鍋爐鍋筒、受熱面管子、管道等的厚度，也用于校核件結(jié)構(gòu)尺寸等。測(cè)厚儀多是攜帶式的，體積與小型半導(dǎo)體收音機(jī)相近，厚度值的顯示多是數(shù)字式的。對(duì)于鋼材，大測(cè)定厚度達(dá)2000 mm左右，度在±0.01~±0.1 mm之間。

磁性測(cè)厚儀在測(cè)定各種導(dǎo)磁材料的磁阻時(shí)，測(cè)定值會(huì)因其表面非導(dǎo)磁覆蓋層厚度而發(fā)生變化。利用這種變化即可測(cè)知覆蓋層厚度值。常用于測(cè)定鐵磁金屬表面上的噴鋁層、塑料層、電鍍層、磷化層、油漆層等的厚度。

渦流測(cè)厚儀當(dāng)載有電流的探頭線(xiàn)圈置于被測(cè)金屬表面時(shí)，由于頻磁場(chǎng)的作用而使金屬體內(nèi)發(fā)生渦流，此渦流發(fā)生的磁場(chǎng)又反作用于探頭線(xiàn)圈，使其阻抗發(fā)生變化，此變化量與探頭線(xiàn)圈離金屬表面的距離(即覆蓋層的厚度)有關(guān)，因而根據(jù)探頭線(xiàn)圈阻抗的變化可間接測(cè)量金屬表面覆蓋層的厚度。常用于測(cè)定鋁材上的氧化膜或鋁、銅表面上其他緣覆蓋層的厚度。

測(cè)厚儀可以測(cè)定薄鋼板、薄銅板、薄鋁板、硅鋼片、合金片等金屬材料及橡膠片，塑料膜，紙張等的厚度。。

使用注意事項(xiàng)

測(cè)厚儀的測(cè)試方法主要有:磁性測(cè)厚法，放射測(cè)厚法，電解測(cè)厚法，渦流測(cè)厚法。

測(cè)量注意事項(xiàng):

⒈在行測(cè)試的時(shí)候要注意片集體的金屬磁性和表面粗糙度應(yīng)當(dāng)與試件相似。

⒉測(cè)量時(shí)側(cè)頭與試樣表面保持垂直。

⒊測(cè)量時(shí)要注意基體金屬的臨界厚度，如果大于這個(gè)厚度測(cè)量就不受基體金屬厚度的影響。

⒋測(cè)量時(shí)要注意試件的曲率對(duì)測(cè)量的影響。因此在彎曲的試件表面上測(cè)量時(shí)不可靠的。

⒌測(cè)量前要注意周?chē)渌碾娖鲿?huì)不會(huì)發(fā)生磁場(chǎng)，如果會(huì)將會(huì)干擾磁性測(cè)厚法。

⒍測(cè)量時(shí)要注意不要在轉(zhuǎn)角處和靠近試件邊緣處測(cè)量，因?yàn)榘愕臏y(cè)厚儀試件表面形狀的忽然變化很敏感。

⒎在測(cè)量時(shí)要保持壓力的恒定，否則會(huì)影響測(cè)量的讀數(shù)。

⒏在行測(cè)試的時(shí)候要注意儀器測(cè)頭和被測(cè)試件的要直接接觸，因此測(cè)厚儀在行對(duì)側(cè)頭清除附著物質(zhì)。

本段應(yīng)用

1、激光測(cè)厚儀是利用反射原理，根據(jù)光切法測(cè)量和觀察機(jī)械中零件表面的微觀幾何形狀來(lái)測(cè)量的厚度，是種非接觸式的動(dòng)態(tài)測(cè)量?jī)x器。它可直接輸出數(shù)字信號(hào)與業(yè)計(jì)算機(jī)相連接，并迅速處理數(shù)據(jù)并輸出偏差值。

2、是非接觸式的動(dòng)態(tài)計(jì)量?jī)x器。它以PLC和業(yè)計(jì)算機(jī)為核心，采集計(jì)算數(shù)據(jù)并輸出偏差值給軋機(jī)厚度控制系統(tǒng)，達(dá)到要求的軋制厚度。主要應(yīng)用行業(yè):有色金屬的板帶箔、冶金行業(yè)的板帶。

3、紙張測(cè)厚儀:適用于4mm以下的各種薄膜、紙張、紙板以及其他片狀材料厚度的測(cè)量。

4、薄膜測(cè)厚儀:用于測(cè)定薄膜、薄片等材料的厚度，測(cè)量范圍寬、測(cè)量度好，具有數(shù)據(jù)輸出、意位置置零、公英制轉(zhuǎn)換、自動(dòng)斷電等點(diǎn)。

5、涂層測(cè)厚儀:用于測(cè)量鐵及非鐵金屬基體上涂層的厚度.